ATE 장비 동영상
   HIOKI ATE PROBE
    F.P.T B.B.T
   1109 IMPEDANCE
   1116 X-Y C
   1117 X-Y BOARD
   1270/1271 X-Y BOARD
    F.P.T I.C.T
   1114 X-Y IN-CIRCUIT
   1240 X-Y IN-CIRCUIT
    JIG B.B.T
   1107-30,31,20,21
   1107-61 UNIT
   1107-62 BARE BOARD
   1108 UNIT
   1118 X-Y INTEGRATED
    JIG I.C.T
   1105-01 IN-CIRCUIT
   1220-00/1220-02
    계측기 장비
   3504 C 하이 테스터
 
 
 
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IC 리드의 납댐불량 검출

풍부한 옵션

0.05s/ 스텝의 고속 검사(2.5mm이동시)

고정밀도 프로빙

자동 위치 보정 기능 표준 장비

간이 비주얼 테스트 기능 첨부

 
   
  1114_X_Y.pdf