ATE 장비 동영상
HIOKI ATE PROBE
F.P.T B.B.T
1109 IMPEDANCE
1116 X-Y C
1117 X-Y BOARD
1270/1271 X-Y BOARD
F.P.T I.C.T
1114 X-Y IN-CIRCUIT
1240 X-Y IN-CIRCUIT
JIG B.B.T
1107-30,31,20,21
1107-61 UNIT
1107-62 BARE BOARD
1108 UNIT
1118 X-Y INTEGRATED
JIG I.C.T
1105-01 IN-CIRCUIT
1220-00/1220-02
계측기 장비
3504 C 하이 테스터
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ATE 장비소개
> 1270/1271 X-Y BOARD HiTESTER
1270 검사 에리어：394 (W)×324 (D) mm
1271 검사 에리어：604 (W)×504 (D) mm
고정밀도 프로빙
고속 검사
도통, 절연 검사(1V ~ 250V 1 V가변) 용량 검사도 가능(5aF=5×10-18 F의 분해가능)
IVH,스루홀의 저저항 검사도 가능(4 단자 계측) 4 단자 저항 검사(분해가능 0.2μΩ)
최소한의 타흔
간단한 조작
L,C,R의 측정 기능
1270.pdf
1270 검사 에리어：394 (W)×324 (D) mm
